GB/T 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，國(guó)家推薦性標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 10589-2008發(fā)行信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)GB/T 10589-2008

中文名 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

英文名 Specification for low temperature test chambers

發(fā)布日期2008-06-30

實(shí)施日期2009-01-01

廢止日期無(wú)

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)N61

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)71.040.10

發(fā)布單位CN-GB

引用標(biāo)準(zhǔn)JJF 1059-1999 GB/T 191-2008 GB 14048.1-2006 JB/T 9512-1999

被代替標(biāo)準(zhǔn)GB/T 10589-1989

GB/T 10589-2008適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫試驗(yàn)箱（簡(jiǎn)稱“試驗(yàn)箱”）相關(guān)術(shù)語(yǔ)和定義、使用條件、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、貯存。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。

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